電子元器件的可靠性評價是指對電子元器材產(chǎn)品、半成品或模擬樣片，通過各種可靠性評價辦法，如可靠性試驗(yàn)、加速壽數(shù)試驗(yàn)和快速評價技能等，并運(yùn)用數(shù)理統(tǒng)計(jì)工具和有關(guān)模擬仿真軟件來評定其壽數(shù)、失效率或可靠性質(zhì)量等級。
  隨著電子元器材可靠性的要求不斷進(jìn)步，電子元器材向超微型化、高集成化、多功能化方向更加迅猛的發(fā)展，對器材的可靠性評價技能日益為人們所關(guān)注。近年來，在這方面也相繼取得了很多好的進(jìn)展。
  有的出產(chǎn)單位，開端選用加速壽數(shù)試驗(yàn)辦法，能夠縮短一些評價時刻。后來，又選用晶片級可靠性 (WLR) 評估技能，在出產(chǎn)過程中或封裝前用測驗(yàn)結(jié)構(gòu)樣片進(jìn)行可靠性評估，加強(qiáng)了出產(chǎn)過程的操控，使影響器材可靠性的各種因素在出產(chǎn)過程中得到了及時的排除和改進(jìn)。