可靠性就是產(chǎn)品在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)達(dá)到規(guī)定規(guī)定的能力。可靠性試驗(yàn)包括：可靠性鑒定試驗(yàn)、可靠性例行試驗(yàn)、可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)。
環(huán)境可靠性試驗(yàn)包括力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)和氣候環(huán)境試驗(yàn)。
力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)：正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)、機(jī)械沖擊、碰撞、自由跌落、加速度、搖擺、傾跌和翻倒等；
氣候環(huán)境試驗(yàn)：高溫工作、低溫工作、高溫貯存、低溫貯存、恒定濕熱、交變濕熱、中性鹽霧、交變鹽霧、溫度變化、溫度循環(huán)、快速溫變、沙塵、淋雨試驗(yàn)等。
北京可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室測(cè)試環(huán)境：

可靠性試驗(yàn)檢測(cè)報(bào)告模板：

可靠性試驗(yàn)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：
1. 低溫試驗(yàn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007
 
2.高溫試驗(yàn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫GB/T2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007

3.恒定濕熱試驗(yàn):
環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001
 
4.交變濕熱試驗(yàn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005
 
5.振動(dòng)試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi: 振動(dòng) 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）    GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995
 
6.溫度變化試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009
 
7.溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)：環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009
 
8.自由跌落試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990
 
9.機(jī)械沖擊試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊  GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987
 
10.碰撞試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987
 
11.傾跌與翻倒試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982
 
12.砂塵試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn) GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994
 
13.鹽霧試驗(yàn)：
人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981
 
14.溫度沖擊：環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009
 
15.外殼防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)
外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼） GB 4208-2008，IEC 60529:2001
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000
 
16.低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983

17.高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)  GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983
 
18.溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合 GB/T 2423.59-2008    

19.（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)：GB/T 2423.102-2008
 
20.可靠性試驗(yàn)：
設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案   GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978
設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗(yàn) GB/T 5080.6-1996  ，IEC 60605-6:1989
設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案   GB/T 5080.5-1985  ，IEC 60605-5:1982
設(shè)備可靠性試驗(yàn) 可靠性測(cè)定試驗(yàn)的點(diǎn)估計(jì)和區(qū)間估計(jì)方法 (指數(shù)分布)   GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978
可靠性試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)周期設(shè)計(jì) GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994
可靠性試驗(yàn) 第1部分：試驗(yàn)條件和統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001

實(shí)驗(yàn)室電話/微信：136 9109 3503。