電工電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)_自由跌落試驗(yàn)的方法有兩種：自由跌落試驗(yàn)和重復(fù)自由跌落試驗(yàn)。
自由跌落試驗(yàn)用來模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的自由跌落，樣品通常按規(guī)定的狀態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上。自由跌落試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性。
重復(fù)自由跌落是用來模擬附在電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落，使試驗(yàn)樣品從規(guī)定的高度重復(fù)跌落到規(guī)定的表面上，一般使用滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)來實(shí)現(xiàn)。每個(gè)試驗(yàn)樣品需要單獨(dú)測試，并且通常都帶有一段線纜。試驗(yàn)的結(jié)果應(yīng)通過試驗(yàn)樣品的機(jī)械、電性能的變化來評定。
自由跌落試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)如下：
重復(fù)自由跌落試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)如下：