低氣壓對(duì)產(chǎn)品的影響
氣壓降低對(duì)產(chǎn)品的直接影響主要是氣壓變化產(chǎn)生的壓差作用。對(duì)于密封產(chǎn)品，其外殼會(huì)產(chǎn)生一個(gè)壓力，在這個(gè)壓力的作用下有使密封的風(fēng)險(xiǎn)。然而氣壓降低的主要作用還在于因氣壓降低伴隨著大氣密度的降低會(huì)使產(chǎn)品的性能受到很大影響。對(duì)于發(fā)熱產(chǎn)品，如電機(jī)、變壓器、接觸器、電阻器等。這些產(chǎn)品在使用中會(huì)發(fā)熱，產(chǎn)品因發(fā)熱而使溫度升高，這溫度升高部分稱之為溫升。散熱產(chǎn)品的溫升隨大氣壓的降低而增加，隨海拔高度的增加而增加。導(dǎo)致產(chǎn)品的性能下降或運(yùn)行不穩(wěn)定等現(xiàn)象出現(xiàn)。對(duì)于以空氣作為絕緣介質(zhì)的設(shè)備，低氣壓對(duì)設(shè)備的影響更為顯著。在正常大氣條件下，空氣可以是較好的絕緣介質(zhì)，許多電氣產(chǎn)品以空氣為絕緣介質(zhì)。這些產(chǎn)品用于高海拔地區(qū)或作為機(jī)載設(shè)備時(shí)，由于大氣壓降低，常常在電場(chǎng)較強(qiáng)的電附近產(chǎn)生局部放電現(xiàn)象，稱之為電暈。更嚴(yán)重的是，有時(shí)會(huì)發(fā)生空氣間隙擊穿。在低氣壓下，特別是伴隨高溫條件時(shí)空氣介電強(qiáng)度顯著降低，即電暈起始電壓和擊穿電壓顯著降低，從而使電弧表面放電或電暈放電的危險(xiǎn)性增加。
低氣壓試驗(yàn)測(cè)試服務(wù)領(lǐng)域
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√ 高氣壓試驗(yàn)
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√ 低氣壓試驗(yàn)
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√ 高度試驗(yàn)
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√ 溫度高度試驗(yàn)
低氣壓試驗(yàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)參考（部分）
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GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓
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GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度(低溫、高溫) 低氣壓 振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
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IEC 68-2-41 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第二部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/BM高溫/低氣壓試驗(yàn)
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H 5830.14 機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件與試驗(yàn)方法低氣壓(高度)
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JB 3224-83 使用于高海拔地區(qū)電工產(chǎn)品低氣壓試驗(yàn)方法
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GB 12085.5 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 綜合低溫與低氣壓
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GB/T 10590 低溫 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
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GB/T 5170.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備