顯示器件的環(huán)境與可靠性
試驗項目
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高低溫儲存試驗
高低溫貯存測試是將顯示器件置于高溫或者低溫的環(huán)境下進(jìn)行規(guī)定時間的溫度貯存。其目的是為了檢驗在不同溫度點下顯示器件的外觀以及功能是否產(chǎn)生暫時性或永久性的損傷。一般來說，顯示器件的實際使用環(huán)境溫度范圍不會太大。依標(biāo)準(zhǔn)而言，極限低溫值為-50 ℃，極限高溫值為100 ℃。
2
溫度變化試驗
溫度變化試驗則參考GB/T 2423.22中的方法Na和方法Nb進(jìn)行。一般要求高低溫之間的轉(zhuǎn)換需在規(guī)定時間（常見轉(zhuǎn)換時間為2 min~3 min）或者在規(guī)定溫變速率下完成。該測試的目的是考察顯示器件在經(jīng)過長時間重復(fù)溫度劇烈變化的試驗環(huán)境后，其外觀是否產(chǎn)生暫時性或永久性的變化和損傷，功能是否還能維持正常。通常對于顯示器件來說，屏幕的光學(xué)性能和電氣性能是最為看重的部分。
3
穩(wěn)態(tài)濕熱試驗
穩(wěn)態(tài)濕熱試驗是為顯示器件提供一個穩(wěn)定的溫度和濕度環(huán)境，在規(guī)定時間內(nèi)觀察顯示器件的外觀、電學(xué)和光學(xué)性能是否正常。該測試主要考量顯示器件的零部件能否承受住來自濕度的應(yīng)力腐蝕。
4
低氣壓試驗
低氣壓試驗是為顯示器件提供一個規(guī)定氣壓值的低壓環(huán)境，以模擬在高空運(yùn)輸和使用過程中顯示器件是否會產(chǎn)生不可逆轉(zhuǎn)的外觀和性能變化，考察低壓環(huán)境對顯示屏幕的光學(xué)和電學(xué)性能的影響。
5
循環(huán)濕熱試驗
循環(huán)濕熱試驗通常依照GB/T 2423.4執(zhí)行。循環(huán)的溫度變化范圍在（25~40或者55）℃之間，濕度最小不低于80 %RH，單個循環(huán)費時24 h。試驗中顯示器件通常加電運(yùn)行。此項測試將溫度、濕度、電壓三個應(yīng)力結(jié)合起來，同時作用于產(chǎn)品上，綜合考察顯示器件內(nèi)部電路絕緣性能是否優(yōu)良，是否存在安全隱患。
6
溫濕度組合循環(huán)試驗
溫濕度組合循環(huán)試驗依據(jù)GB/T 2423.34中的規(guī)定，在（-10~65）℃之間進(jìn)行10 個循環(huán)的溫度/濕度組合循環(huán)試驗，每個循環(huán)費時24 h。同循環(huán)濕熱試驗類似，試驗中顯示器件通常需加電運(yùn)行，從而用溫度、濕度和電壓三種綜合應(yīng)力去評估顯示器件的絕緣性能。
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光暴露試驗
光暴露試驗參考GB/T 2423.24標(biāo)準(zhǔn)來執(zhí)行。其主要測試手段是通過金屬鹵素?zé)魜砟M自然陽光，對顯示器件表面進(jìn)行反復(fù)循環(huán)照射，并以此來評估光照對產(chǎn)品在外觀、光澤度、顏色等方面的影響。該試驗為最基本的耐候性試驗之一，常常應(yīng)用在電工電子產(chǎn)品以及汽車零部件的可靠性測試項目中。標(biāo)準(zhǔn)中提供了三種光照循環(huán)方式：方式A為光照8 h結(jié)合黑暗16 h，此方法相當(dāng)于最嚴(yán)酷的自然光照條件；方式B為光照20 h結(jié)合黑暗4 h，此方法主要用于評估光照對產(chǎn)品產(chǎn)生的劣化效應(yīng)；方式C是連續(xù)光照，該方法更多的是關(guān)注光化學(xué)效應(yīng)，而忽略循環(huán)熱應(yīng)力對產(chǎn)品造成的損傷。
8
振動試驗
振動試驗是對顯示器件施加一個規(guī)定加速度的振動能量，去檢查顯示器件表面以及內(nèi)部電路和電子元器件的穩(wěn)定性和結(jié)構(gòu)上的穩(wěn)固性。通常采用正弦振動方法，先利用低量級振動應(yīng)力激勵產(chǎn)品，搜尋產(chǎn)品自身固有頻率（也可稱為共振頻率、危險頻率），然后再在該頻率點上進(jìn)行定頻耐久振動。一般在測試期間需使顯示器件持續(xù)處于正常工作狀態(tài)，連續(xù)監(jiān)控顯示器件的功能及結(jié)構(gòu)是否完好無損。
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沖擊試驗
沖擊試驗是指機(jī)械沖擊試驗，試樣應(yīng)以合適的治具固定在沖擊平臺上完成6個方向共18次的沖擊試驗。該項測試主要是對顯示器件施加一個瞬間規(guī)定加速度和脈寬的能量，以評估在承受規(guī)定能量的前提下，顯示器件的外表面、內(nèi)部電路以及電子元器件的穩(wěn)定性和牢固性，檢驗顯示器件在結(jié)構(gòu)上的薄弱之處。