異物分析異物分析通常是指針對產品上的外來不明物質、表面污染、析出物等進行分析的檢測技術。通過分析異物的成分，找到異物的來源，從而找到改善的方法。

異物分析的方法目前主要有主要有紅外光譜法(FTIR)和掃描電鏡/能譜儀法(SEM/EDS)，這兩種方法是分別針對不同的異物的。

異物分析測試方法分類

異物的有機物結構分析，主要用紅外顯微鏡-FTIR;
異物或材料表面的元素成分分析，主要用電子探針(EPMA)、掃描電鏡能譜儀(SEM-EDX)、多功能光電子能譜儀(XPS)、能量色散型微區(qū)X 射線熒光光譜儀(μEDX)等;
表面觀察，主要用光學顯微鏡(OM)和電子顯微鏡(比如SEM)。

測試方法

根據(jù)異物的實際情況選用合適的紅外光譜圖采樣方法，從而獲得異物高質量的紅外光譜圖。可以根據(jù)異物紅外光譜圖官能團的吸收峰來確定異物的化學組成，一種簡單的方法是通過儀器軟件進行譜庫檢索，跟譜庫中的標準紅外光譜圖的進行對比來確定異物的化學組成。

紅外顯微鏡采集紅外光譜圖步驟

1根據(jù)異物的實際情況選擇合適的采集紅外光譜圖方法，常用的采集方法有反射法、透射法和衰減全反射法等;

2從OMNIC軟件中設定好實驗參數(shù)條件;

4找到并聚焦所需要測量的異物;

5點擊COLLECT SAMPLE，同普通樣品采集方法，根據(jù)提示進行異物紅外光譜圖采集。