一、低氣壓試驗(yàn)的目的

GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法105 低氣壓試驗(yàn)（等效美軍標(biāo)MIL-STD-202F ）

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1 目的：確定元件和材料在低氣壓下耐電擊穿能力；確定密封元件耐受氣壓差不破壞的能力；檢驗(yàn)低氣壓對(duì)元件工作特性的影響及低氣壓下的其他效應(yīng)；有時(shí)候可用于確定機(jī)電元件的耐久性。

 本方法是常溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。若裝置元件的設(shè)備將在低溫低氣壓及高溫低氣壓的綜合條件下貯存和使用，而且能夠斷定高低溫和氣壓的綜合作用是造成失效的主要原因，常溫低氣壓試驗(yàn)不能使用時(shí)，則應(yīng)進(jìn)行溫度-氣壓綜合環(huán)境試驗(yàn)。

GJB 150.2A-2009

3.1 目的

本試驗(yàn)的目的在于確定裝備在常溫條件下能否：

a)耐受低氣壓環(huán)境；

b)在低氣壓環(huán)境下正常工作；

c)耐受空氣壓力快速變化。

二、低氣壓相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

1）GJB 150.2A-2009 《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分低氣壓（高度）試驗(yàn)》

2）GJB 360B-2009《電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法105低氣壓試驗(yàn)》（等效美軍標(biāo)MIL-STD-202F ）

3）GJB 548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序方法1001 低氣壓（高空作業(yè)）》（等效美軍標(biāo)MIL-STD-883D)

4）GB/T 2421-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)總則》

5）GB/T 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M低氣壓試驗(yàn)方法》

6）GB/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》

7）GB/T 2423.26-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》

8）GB/T 2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)》

9）GB/T 2424.15-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》

10）MIL-STD-810F 《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)低氣壓（高度）試驗(yàn)》

11） GB/T 1920-1980  標(biāo)準(zhǔn)大氣(30公里以下部分)（2015年10月已作廢）

12）IEC 60068-2-41（1976）《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第二部分試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM高溫/低氣壓試驗(yàn)》

 ……

三、試驗(yàn)條件：

1、試驗(yàn)氣壓

GJB 150不適用于飛行高度超過(guò)30 000m的航天器、飛機(jī)或?qū)椛系难b備，而GJB 360中給出了4 572~200 000m不同高度下對(duì)應(yīng)的低氣壓值，GJB 548也給出了4 572~200 000m不同高度下對(duì)應(yīng)的低氣壓值。對(duì)比GJB 360與GJB 548的低氣壓-高度表，GJB 548共列出了A、B、C、D、E、F、G共7個(gè)不同條件下的高度氣壓值，并且所給出的試驗(yàn)條件有一定的規(guī)律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變??；GJB 360給出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、J共10個(gè)不同條件下的高度氣壓值，并且所列的高度-氣壓表中的試驗(yàn)條件由A到試驗(yàn)條件E有一定的規(guī)律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小，而由試驗(yàn)條件F到試驗(yàn)條件J沒(méi)有呈現(xiàn)規(guī)律性。與GJB 548所列的試驗(yàn)條件對(duì)比，GJB 360 試驗(yàn)條件增加了條件H到試驗(yàn)條件J，對(duì)應(yīng)的氣壓高度條件分別為：H：3 000m 70kPA；I：18 000m，7.6kPa；K：25 000m, 2.5 kPa 。

2、試驗(yàn)時(shí)間

GJB 360B-2009規(guī)定：

若無(wú)其他規(guī)定，試驗(yàn)樣品在低氣壓條件下的試驗(yàn)時(shí)間，可從下列數(shù)值中選?。?/span>

    5min、30min、1h、2h、4h和16h。

GJB 150.2A-2009

4.3.5 試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間

程序1的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間應(yīng)代表裝備在低氣壓環(huán)境下的預(yù)期使用時(shí)間，若這樣做需要的時(shí)間太長(zhǎng)，則可以適當(dāng)縮短時(shí)間。對(duì)大多數(shù)裝備來(lái)說(shuō)，試驗(yàn)時(shí)間至少持續(xù)1h。程序II、III和IV的試驗(yàn)時(shí)間持續(xù)到所要求的各項(xiàng)性能測(cè)試完為止。