一、低氣壓試驗的目的
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法方法105 低氣壓試驗（等效美軍標(biāo)MIL-STD-202F ）
ASs="" style="color:rgba(0, 0, 0, 0.498);font-size:15px;font-family:-apple-system-font, BlinkMacSystemFont, "text-align:justify;background-color:#FFFFFF;">
1 目的：確定元件和材料在低氣壓下耐電擊穿能力；確定密封元件耐受氣壓差不破壞的能力；檢驗低氣壓對元件工作特性的影響及低氣壓下的其他效應(yīng)；有時候可用于確定機電元件的耐久性。
本方法是常溫條件下的低氣壓試驗。若裝置元件的設(shè)備將在低溫低氣壓及高溫低氣壓的綜合條件下貯存和使用，而且能夠斷定高低溫和氣壓的綜合作用是造成失效的主要原因，常溫低氣壓試驗不能使用時，則應(yīng)進行溫度-氣壓綜合環(huán)境試驗。
GJB 150.2A-2009
3.1 目的
本試驗的目的在于確定裝備在常溫條件下能否：
a)耐受低氣壓環(huán)境；
b)在低氣壓環(huán)境下正常工作；
c)耐受空氣壓力快速變化。
二、低氣壓相關(guān)試驗標(biāo)準(zhǔn)
1）GJB 150.2A-2009 《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第二部分低氣壓（高度）試驗》
2）GJB 360B-2009《電子及電氣元件試驗方法方法105低氣壓試驗》（等效美軍標(biāo)MIL-STD-202F ）
3）GJB 548B-2005《微電子器件試驗方法和程序方法1001 低氣壓（高空作業(yè)）》（等效美軍標(biāo)MIL-STD-883D)
4）GB/T 2421-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗總則》
5）GB/T 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M低氣壓試驗方法》
6）GB/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗方法》
7）GB/T 2423.26-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗方法》
8）GB/T 2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗》
9）GB/T 2424.15-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》
10）MIL-STD-810F 《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗低氣壓（高度）試驗》
11） GB/T 1920-1980 標(biāo)準(zhǔn)大氣(30公里以下部分)（2015年10月已作廢）
12）IEC 60068-2-41（1976）《基本環(huán)境試驗規(guī)程第二部分試驗試驗Z/BM高溫/低氣壓試驗》
……
三、試驗條件：
1、試驗氣壓
GJB 150不適用于飛行高度超過30 000m的航天器、飛機或?qū)椛系难b備，而GJB 360中給出了4 572~200 000m不同高度下對應(yīng)的低氣壓值，GJB 548也給出了4 572~200 000m不同高度下對應(yīng)的低氣壓值。對比GJB 360與GJB 548的低氣壓-高度表，GJB 548共列出了A、B、C、D、E、F、G共7個不同條件下的高度氣壓值，并且所給出的試驗條件有一定的規(guī)律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變??；GJB 360給出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、J共10個不同條件下的高度氣壓值，并且所列的高度-氣壓表中的試驗條件由A到試驗條件E有一定的規(guī)律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小，而由試驗條件F到試驗條件J沒有呈現(xiàn)規(guī)律性。與GJB 548所列的試驗條件對比，GJB 360 試驗條件增加了條件H到試驗條件J，對應(yīng)的氣壓高度條件分別為：H：3 000m 70kPA；I：18 000m，7.6kPa；K：25 000m, 2.5 kPa 。
2、試驗時間
GJB 360B-2009規(guī)定：
若無其他規(guī)定，試驗樣品在低氣壓條件下的試驗時間，可從下列數(shù)值中選取：
5min、30min、1h、2h、4h和16h。
GJB 150.2A-2009
4.3.5 試驗持續(xù)時間
程序1的試驗持續(xù)時間應(yīng)代表裝備在低氣壓環(huán)境下的預(yù)期使用時間，若這樣做需要的時間太長，則可以適當(dāng)縮短時間。對大多數(shù)裝備來說，試驗時間至少持續(xù)1h。程序II、III和IV的試驗時間持續(xù)到所要求的各項性能測試完為止。