產(chǎn)品應(yīng)用:高壓加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等),加快試驗(yàn)過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時間。
用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)而不會產(chǎn)生失效,因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時間,采用了最新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型:即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(國際電工委員會)所標(biāo)準(zhǔn)化。 注意事項(xiàng):USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))。
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