可程式高低溫試驗箱主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。該試驗設備主要用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
可程式高低溫試驗箱適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質量之用。
符合標準：
GB11158高溫試驗箱技術條件
GB10589低溫試驗箱技術條件
GB10592-89高低溫試驗箱技術條件
GB/T2423.1-2001低溫試驗箱試驗方法
GB/T2423.2-2001高溫試驗箱試驗方法
GB/T2423.22-2001溫度變化試驗方法
IEC60068-2-1.1990低溫試驗箱試驗方法
IEC60068-2-2.1974高溫試驗箱試驗方法
GJB150.3高溫試驗
GJB150.4低溫試驗